Insegnamenti

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Docente
GIOVANNA MURA (Tit.)
Periodo
Secondo Semestre 
Modalità d'Erogazione
Convenzionale 
Lingua Insegnamento
 



Informazioni aggiuntive

Corso Percorso CFU Durata(h)
[70/83]  INGEGNERIA ELETTRONICA [83/00 - Ord. 2010]  PERCORSO COMUNE 2 20

Obiettivi

Tecnologia dei semiconduttori
Tecniche di Analisi e Reverse Engineering
Fisica dei meccanismi di guasto
Metodologia per l'analisi di guasto

Prerequisiti

Dispositivi Elettronici - Affidabilità

Contenuti

20 ore -
14 lezioni frontali in classe
6 laboratorio

Metodi Didattici

Lezioni frontali su:
Tecnologia dei semiconduttori
Microscopia Elettronica in scansione (SEM) e trasmissione (TEM), EDS, Focused Ion Beam (FIB)
Tecniche di Analisi e Reverse Engineering
Fisica dei meccanismi di guasto in microelectronica
Esercitazioni pratiche:
Analisi al microscopio elettronico in scansione, Analisi di guasto su dispositivi elettronici

Verifica dell'apprendimento

la valutazione finale consiste in un colloquio orale / la presentazione di una ricerca/tesina applicativa

Testi

Failure Analysis of Integrated circuits - tool and techniques L.C.Wagner - Kluwer Academic Publishers


slides a lezione

Altre Informazioni

la frequenza al corso è obbligatoria

Questionario e social

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