Centro Grandi Strumenti

Il CGS ha lo scopo di gestire le grandi apparecchiature in dotazione, rendendo possibile l’utilizzazione da parte degli utenti, in accordo con le modalità stabilite dal Comitato Tecnico Scientifico.

Analisi di superficie XPS, ARXPS, SAXPS. E' possibile analizzare tutti i campioni (metalli, ceramici, polimeri, applicazioni anche in campo ambientale e dei beni culturali). Sono possibili profili di composizione non distruttivi mediante ARXPS senza muovere il campione. Risoluzione laterale fino a 15 µm.

Analisi di Superficie XPS
Analisi di Superficie XPS

Microscopio elettronico a transmissione. Risoluzione immagine reticolo 0.14 nm, immagine di punto 0.194 nm.

HR-TEM
HR-TEM

Microscopio elettronico a scansione (ESEM) a pressione variabile (UV, pressione bassa, fino a pressione atmosferica). Risoluzione laterale sino a 4 nm. Analisi chimica elementare con rilevatore EDX.

Microscopia ESEM
Microscopia ESEM

Microscopia a forza atomica, risoluzione atomica in soluzioni ed in aria.

AFM
AFM

Diffratometro a media e alta risoluzione per film sottili.
Scansioni monodimensionali per la determinazione dello spessore, dei parametri reticolari del film, del grado di rilassamento. Mappe del reticolo reciproco per la determinazione della composizione e del grado di deformazione.

Micro-Diffrattometro
Micro-Diffrattometro

Campo Vicino SNOM, Campo Lontano Confocale, Risoluzione Temporale sino a 2ps
Risoluzione Spettrale UV-VIS-NIR, Risoluzione Spaziale sino a 100nm
Alta Eccitazione Ottica UV-VIS-NIR
Campioni di nano fibre organiche eccitate con luce UV

Microscopia ottica
Microscopia ottica

Crescita di strati sottili in atmosfera controllata (% ossigeno < 1ppm)
Crescita di ossidi con alto Gap, metallizzazione, controllo della crescita al nm

Preparativa
Preparativa

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